侵权投诉

当前位置:

OFweek仪器仪表网

工控仪表

正文

射频导纳物位计的测量原理

导读: 射频导纳测量技术是具有独特优势的物位测量技术。虽然跟一般的电容式测量技术的概念很相似,但是射频导纳技术在电子单元中加入了Driving-Shield电路和斩波电路,因此能够实现阻抗和容抗的单独测量。

  传统的电容式物位计,随着物位上涨、物料覆盖探头,电路中探头和介质之间的电容值(导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于物位的变化导致了电容桥的失衡,所以电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大,最后输出相应的信号。然而,电容式物位仪表有一些缺点,特别是当探头有挂料的时候会严重影响测量结果。

  射频导纳测量技术是具有独特优势的物位测量技术。虽然跟一般的电容式测量技术的概念很相似,但是射频导纳技术在电子单元中加入了Driving-Shield电路和斩波电路,因此能够实现阻抗和容抗的单独测量。通过物理定律计算可得,任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的,所以由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相,从总的输出中消除。

  射频导纳产品的探头安装在储料罐中,通过探头获得物位变化引起的射频信号的变化。

  探头的Driving-Shield端能够阻止射频电流通过挂料形成回路,保证了仪表测量的准确性。

  射频导纳技术测量结果精度高,并且不受探头挂料的影响,是目前使用场合最广泛的一种测量技术。从低温-100℃到高温800℃、从真空到6.3MPa强压场合、从超短量程到120米超大量程,都能够正常应用,并且能够应用于不同类型的物料。

声明: 本文由入驻OFweek公众平台的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。

我来说两句

(共0条评论,0人参与)

请输入评论

请输入评论/评论长度6~500个字

您提交的评论过于频繁,请输入验证码继续

暂无评论

暂无评论

文章纠错
x
*文字标题:
*纠错内容:
联系邮箱:
*验 证 码:

粤公网安备 44030502002758号