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马尔文亮相SNEC第六届(2012)国际太阳能光伏展览会

导读: 英国马尔文仪器公司将携应用于太阳能电池制造的颗粒表征仪器亮相5月16至18日在上海新国际博览中心举办的第六届(2012年)国际太阳能光伏大会暨展览会(SNEC)。

 2012年5月14日,中国上海--英国马尔文仪器公司将携应用于太阳能电池制造的颗粒表征仪器亮相5月16至18日在上海新国际博览中心举办的第六届(2012年)国际太阳能光伏大会暨展览会(SNEC)(马尔文展位号:W2-800)。马尔文此次的展品包括最新推出的Mastersizer 3000激光衍射粒度分析仪,以及用于测定颗粒粒径和形状的Sysmex FPIA-3000颗粒图像分析系统。整套系统可用于极大提高硅片切割过程中高价值碳化硅浆料的循环利用效率和优化碳化硅磨料。

  依赖于碳化硅研磨浆料的多线锯切割工艺,可用于生产光伏太阳能电池所需的切割硅晶圆。这一技术能够一次性切割成千上万片晶圆。然而随着时间的推移,线锯上的浆料会逐渐被污染,导致废品硅增多,磨料磨损颗粒积聚,从而降低了线切割过程的效率。此外,碳化硅在晶圆制造行业占据很大的成本比例,据统计每年运行10条线锯的运行成本高达1600万美金,这使碳化硅浆料循环利用成为一个附加值极高的工艺。

  马尔文的颗粒表征系统应用于太阳能电池开发和碳化硅浆料循环利用工艺中,可以对生产质量及制造成本控制提供有效支持。其中,Mastersizer 3000激光衍射粒度分析仪采用各项最新技术能高速智能化地检测磨料粒度的细微变化来进行质量控制。Sysmex FPIA-3000使用鞘流成像技术优化对碳化硅颗粒及浆料循环利用过程进行最优控制、减少废料。除了对碳化硅颗粒及浆料进行表征分析,该系统还能调节碳化硅的颗粒粒度和球形度分布,使晶圆之间切割得更薄,从而减少原料的浪费。而Morphologi G3显微镜图像分析系统能够更深入地了解颗粒的形状及其对浆料性能的影响。

Mastersizer 3000激光衍射粒度分析仪

Mastersizer 3000激光衍射粒度分析仪

Sysmex FPIA-3000颗粒图像分析系统

Sysmex FPIA-3000颗粒图像分析系统

Morphologi G3显微镜图像分析系统

Morphologi G3显微镜图像分析系统

  “近两年由于欧美对光伏行业的补贴政策变化及市场保护,中国的太阳能光伏产业经历了大起大落并面临严峻的市场形势,因此质量及成本控制对于太阳能电池制造商能否在激烈的竞争中脱颖而出显得尤为重要。”马尔文公司中国区总经理秦和义先生说道。“我们衷心地希望能够帮助客户在控制成本的同时生产出高质量的产品,为光伏行业的发展提供更有力的支持。”

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