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GE携手Fraunhofer开发光伏元件寿命预测测量系统

导读: GE近日同Fraunhofer可靠性和微集成研究所(IZM)合作,共同开发电子元件寿命预测测量系统。

  GE近日在光伏电力设备中使用的电力电子使用寿命的可验证性方面迈出了重要的一步,同Fraunhofer可靠性和微集成研究所(IZM)合作,共同开发电子元件寿命预测测量系统。此测量系统的首个原型将于2012年9月作为CoMoLeFo项目(光伏电力电子条件监控)在柏林展出。

  GE与FraunhoferIZM共同参与由TSBBerlin通过RDF基金赞助的该项目的其他各方包括imcMe?systemeGmbH和ElbauElektronikBauelementeGmbH。

  此联合CoMoLeFo项目旨在识别和检测绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的老化机制,它是现代逆变器的主要组件。其中一个流程间接通过捕捉运行期间IGBT的电子参数数据来判断芯片温度,另外一个流程则监控老化引起的参数变化。捕获的数据由远程诊断系统软件进行处理,对IGBT的剩余寿命进行预测。

  此预测功能对于整个行业来说非常重要,因为能够改善光伏发电设备的可靠性、降低维护成本并延长使用寿命。

  FraunhoferIZM的CoMoLeFo项目负责人Ing.AndreasMiddendorf博士指出:“目前为止我们通过这个项目获得的成果提高了我们在故障机制方面的知识,在细化模拟模型和设计新电力电子系统方面均有着重要价值。”
 

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