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安捷伦ICP-MS/MS消除痕量元素分析中的质谱干扰

导读: 本文将8800 ICP-MS/MS的性能与现有四极杆ICP-MS进行了对比,还将详述该串联质谱仪(MS)的硬件及其MS/MS模式独有的分析优势。

 

图 1. 安捷伦 8800 ICP-MS/MS 示意图

  安捷伦科技在 2012 年 1 月隆重推出世界上首款电感耦合等离子体串联质谱仪 8800 ICP-MS/MS。本文作为后续跟踪报道,将 8800 ICP-MS/MS 的性能与现有四极杆 ICP-MS进行了对比,还将详述该串联质谱仪 (MS) 的硬件及其 MS/MS 模式独有的分析优势。

  ICP 三重串联四极杆实现 MS/MS 分析

  8800 串联质谱仪配置两个四极杆:第一个四极杆 (Q1) 位于碰撞/反应池之前, Q1 作为第一级质量过滤器(MS/MS 模式),将剔除目标分析离子以外的所有离子。因此,MS/MS 模式能够确保进入碰撞/反应池 (CRC) 的离子均在控制之中并且不因样品基体的变化而受影响。MS/MS 提供了全新的途径,能够通过化学反应消除 ICP-MS 中的质谱干扰,并确保基质的变化或其他分析元素均不会影响目标分析物的测定。

  对于配备 CRC 的传统四极杆 ICP-MS (ICP-QMS),样品在进入反应池之前无法进行质量过滤,因此样品中的所有离子都会进入反应池。在测定不同基体的样品时,由于基质引起的多原子离子会对待测离子产生新的干扰。即使样品基质经过良好的处理且能够保持一致(如采用高纯半导体级试剂),共存分析物的含量也可能会发生变化,这将会影响传统 ICP-QMS 反应池中形成的多原子离子。ICP-MS/MS 将通过 MS/MS 模式消除因共存分析物含量变化和可变基质造成的结果差异。

 

图 2. 传统的 ICP-QMS 根据测定反应池中形成的多原子离子 TiO+ 来计算 Ti的含量,结果与理论同位素丰度完全一致

 

图 3. 10 ppb 的 Ni(蓝色)、Cu(绿色)和 Zn(粉色)条件下,Ti (1 ppb) 的 ICP-QMS 谱图。其中所有的 TiO+ 多原子离子都与 Ni+、Cu+ 或 Zn+ 发生重叠

 

图 4. 10 ppb 的 Ni(蓝色)、Cu(绿色)和 Zn(粉色)条件下,使用安捷伦 8800 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式所得 Ti (1 ppb) 的谱图

 

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