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牛津仪器镀层厚度测量技术研讨会在苏举办

导读: 牛津仪器协同代理商安柏来公司于2012年6月27日在苏州尼盛万丽酒店举行“XRF镀层厚度测量技术研讨会”。

  牛津仪器协同代理商安柏来公司于2012年6月27日在苏州尼盛万丽酒店举行“XRF镀层厚度测量技术研讨会”,邀请了上海复旦大学杨振国教授、上海大学印仁和教授等知名专家作报告。当天的大雨并没有影响客户参加会议的积极性,共有60位新老用户出席。

  会上,牛津仪器向客户介绍最新款X-Strata920的功能特点,以及如何更好地利用X射线荧光技术进行镀层厚度测量;随后,杨振国教授介绍“高密度印制电路板的失效分析”;最后,牛津仪器服务经理徐克华先生为用户讲解X射线荧光镀层测厚仪日常使用与维护,并解答用户的提问。会后,大家都围在X-Strata920周围亲自操作演示,讨论气氛活跃。

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