斯派克发布新一代SPECTRO MIDEX小焦点ED-XRF光谱仪

2016-08-15 09:11:35 来源：仪器信息网译

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导读： 新一代的SPECTRO MIDEX分析仪采用了最新的ED-XRF检测技术，因此提高了精密度，这个创新使此台仪器成为最优秀的测量贵金属的中频台式XRF仪器之一。

　　OFweek仪器仪表网讯：德国斯派克近日发布了新一代的SPECTRO MIDEX小焦点能散型X射线荧光光谱仪，提高了分析速度和分析准确度。

　　SPECTRO MIDEX小焦点能散型X射线荧光光谱仪

　　新的SPECTRO MIDEX分析仪，与火试金法相比，不仅精密度更好，而且更加快速，操作方便。

　　新一代的SPECTRO MIDEX分析仪采用了最新的ED-XRF检测技术，因此提高了精密度，这个创新使此台仪器成为最优秀的测量贵金属的中频台式XRF仪器之一。此台仪器提高了元素分析的准确性，对贵金属冶炼来说，这一点是非常重要的;同时减少了测试时间提高了样品通量，大型的品质认证中心是非常看重这一点的。此台仪器操作简便，并且可以很方便的将测试结果上传到实验室网络中。

　　另外，SPECTRO MIDEX的优势还包括：

　　在较宽的浓度范围内可保证较高的准确度和精密度;较短的分析时间(一般为30-40秒)。对于冶炼样品的小饰品或者钻粉，它的分析点位可以小至1毫米。对于均质性较差的银质样品，一个较大点位的平均分析结果可以有效的保证高准确度。

　　操作方便，软件界面直观，可在单一屏幕上展示所有相关信息。一个综合性的视频系统帮助操作者精确的放置样品并定位分析点位。分析结果可展示、打印并上传，大大方便了数据使用者。

　　成本低廉。适合于贵金属测试办公室、分析实验室、品质鉴定中心和冶炼实验室。与ICP-OES和火试金法需要消解不同，它在分析成本和速度上更有优势。

　　高分辨率的硅漂移检测器保证了微量和痕量元素分析的准确度。加上超高的计数率，相同时间内，信号强度增加了四倍。

　　与以前的120秒的分析时间相比，分析速度大大提高。在准确度不变的情况下，一次扫描仅需30秒。

　　仪器设计紧凑，样品室较大，可处理小至针类珠宝大至银片的样品。将样品放入升降台，然后旋转按钮将其精确地放置在最优的测量位置，关上分析仪，在屏幕上点击开始即可开始分析。

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