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降低特性分析复杂度 加快信息获取速度

—— 泰克推出全面集成的模块化Keithley 4200A-SCS参数分析仪

导读: 泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪,通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度,简化测试设置,提供清楚精确的结果,加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。

  全球领先的测量解决方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪,通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度,简化测试设置,提供清楚精确的结果,加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。

  Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功,在此基础上,新推出的4200A-SCS仪器采用现代工业设计,拥有全新图形用户界面及多种自学工具,如仪器内嵌的专家指导视频。其结果,是测试设置时间缩短达50%,操作明显更容易、更直观。易用性对半导体器件研究、器件故障分析或可靠性测试等应用尤其重要,在这些应用中,多个用户之间要共享仪器资源。

  “参数分析对商用前分析新型半导体器件、材料或测试器件的可靠性至关重要。但是,科研人员可能只需偶尔执行这些测试,因此很难成为使用参数测试仪器的专家。”泰克科技公司吉时利产品线总经理Mike Flaherty说,“正因如此,我们不遗余力地使4200A-SCS设置和学习操作方面特别简便,即使对以前没有参数分析仪经验的用户也不例外。”

  新型开关模块

  泰克深知,各种测量给半导体研究增加了进一步的复杂度,因此还推出Keithley 4200A-CVIV四通道IV/CV开关模块。这个模块用于4200A-SCS主机,能够在SMU(I-V)测量与电容-电压(C-V)测量之间随意切换,用户可以把C-V测量移动到任何器件端子,而不需抬起探针或移动电缆。

  由于新型宽屏高清显示器,4200A-SCS为交互式测试和试验提供了更多的屏幕空间。这种显示器与全新用户界面相结合,既为偶尔使用的用户提供了直观的操作能力,又为专家用户提供了所需的高级功能。全新用户界面包括专家视图,融汇了世界各地吉时利应用工程师的知识和智慧。这些视频缩短了用户的学习周期,在发生意想不到的结果时帮助用户调试问题,对其看到的结果树立信心。

  与上一代仪器一样,4200A-SCS是一种全面集成的模块化参数分析仪,可以分析材料、半导体器件和工艺的电气特点。4200A-SCS由进行I-V特性分析的多个源测量单元、用于AC阻抗测量的电容-电压模块以及执行脉冲式I-V、波形捕获和瞬态I-V测量的超快速脉冲测量单元组成,为科研人员或工程师进行材料研究、半导体器件设计、开发或生产提供了所需的关键参数。

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