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浅谈三项能量色散X荧光光谱仪行标的制定

导读: 近半个世纪以来,随着半导体技术和计算机技术的迅猛发展,特别是半导体探测器的出现及性能不断地提高,到二十世纪七十年代初,能量色散X荧光光谱仪正式跨入分析仪器行业。

X射线的发现距今已有百年历史,它的发现为各个检测行业的发展提供了巨大的帮助。回顾历史1895年,德国物理学家伦琴( Roentgen WC)发现了X射线。1896年,法国物理学家乔治( Georgs S)发现了X射线荧光。1948年,弗利德曼( Friedman H.) 和伯克斯( Birks L S)利用X射线荧光首先研制了第一台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪。1965年,探测X射线的Si( Li)探测器问世了,奠定了能量色散X射线荧光光谱仪的基础,随即被应用于X射线荧光光谱仪上。1969年,美国海军实验室Birks研制出第一台真正意义上的能量色散X射线荧光光谱仪。近半个世纪以来,随着半导体技术和计算机技术的迅猛发展,特别是半导体探测器的出现及性能不断地提高,到二十世纪七十年代初,能量色散X荧光光谱仪正式跨入分析仪器行业。

能量色散X荧光分析技术发展至今,已成为一门十分成熟的分析技术,被广泛应用于冶金、贵金属、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。能量色散X射线荧光光谱仪由于其快速、准确、环保而又经济的优点已成为理化实验室的重要工具,同时也是野外现场分析和过程控制分析等方面首选仪器之一。

自二十世纪七十年代末我国就引进了能量色散X射线荧光光谱仪投入使用,到90年代我国已可以自主生产能量色散X射线荧光光谱仪。经历了近30年的发展,到二十一世纪初我国能量色散X射线荧光光谱仪生产技术已日臻完备。2000年,GB/T 18043-2000《贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法》标准的发布将能量色散X射线荧光光谱仪带入普通人的视野,同时大量理化试验室及质检机构普遍接受该类仪器。随着2006年7月1日起欧盟ROHS标准的正式实施,能量色散X射线荧光光谱仪作为针对该标准的快速筛选仪器被国内广大电子厂商所熟知,以至于演变成为了每家电子电器厂商所必备的检测工具。市场的需求刺激了生产的发展,我国多家企业也进入了该类仪器的生产、研发领域。时至目前,我国已有多家研制、生产、组装能量色散X射线荧光光谱仪的厂商,其产品主要性能指标基本接近国际先进水平,且国内市场对能量色散X射线荧光光谱仪的需求正在日益增长。

但是如何对能量色散X射线荧光光谱仪进行有效的质量评定,确保能量色散X射线荧光光谱仪的质量品质,目前国内还没有一个统一的行业标准,相关企业基本按照自定的标准生产,难免造成仪器性能不稳定、产品质量参差不齐、使用者对仪器性能不了解、仪器购销贸易纠纷不断等问题,严重影响了行业的健康发展。迄今为止,国内外尚未见有关能量色散X射线荧光光谱仪技术性能测试的标准。其相关标准仅有:1)AS2563-1982《波长色散X射线荧光光谱仪精密度测试的标准方法》;2)JJG 810—93《波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》;3)GB/T 11685—2003《半导体X探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》等。显然,上述标准只能部分借鉴或参考使用,不能满足能量色散X射线荧光光谱仪在行业中的应用需求,在能量色散X射线荧光光谱仪的购销、验收、维修及学术交流等项活动中,对其技术性能的表征只能各行其是。在此新形势下,制定一个兼具合理性、规范性和可操作性的能量色散X射线荧光光谱仪行业标准已迫在眉睫。

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