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光学测量光学测头的应用趋势

2011-10-10 14:29
魏丁小陆
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  传统的接触式三坐标测量机自1956年问世以来,已经经过了50多年的发展。目前已经广泛应用于生产车间及科研部门当中。随着工业技术的不断进步,对测量设备的各方面要求也不断提高,三坐标测量机在此过程中也经历了无数次的技术创新以适应更高的测量要求。尽管如此,当今三坐标测量机依然在某些方面遇到了一定的技术瓶颈。这些瓶颈的产生不能简单地归结于技术创新的不足,其主因在于接触式三坐标测量机的硬件结构和测量原理上的限制。

  传统三坐标测量机配备最多的是触发式测头,用触发式测头测量物体时,测针以一定速度接触物体表面,从而使测针的位置产生偏离,产生的电信号触发测头记录一个物体表面测点的空间坐标。由此带来的第一个问题就是测量速度较慢。其原因在于,首先触发式测头的采点方式是非连续的,测头在一次采点完成后需退回一段距离,让测针归位后才能进行第二次采点。而且采点时接触物体表面的速度不能太快,若测针接触物体速度过快使得测针的位置偏离过大,则信号会被认为是发生了碰撞而采点失败。出于这个原因可以用扫描式测头代替触发式测头,扫描式测头采用的是连续采点方式,因此采点速度得到较大提升。限制测量速度的第二个原因在于,如果被测物体具有比较复杂的几何形状,那么测针需要变换若干次指向才能完成整个测量,并且测针的每个指向需进行标定。如果要克服这一不足,从而进一步提高测量速度的话,需要给三坐标测量机配备高端的多轴旋转扫描测头,该项新技术能够以连续方式高速扫描物体进行采点。

  接触式测量所用的测针尖端一般为红宝石球,测头采点所得的空间坐标为红宝石球的球心位置。而测针与物体表面的实际接触位置并非球心,所以物点的坐标必须根据红宝石球的半径进行补偿。由此带来了接触式测量的第二个问题,即红宝石球的半径补偿方向错误。当被测几何特征较小(直径 《 1mm)且采点密度较大时,采得点的顺序会发生混乱,从而使球半径补偿方向产生错误,造成获得的几何特征与实际不符(图1)。

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  图1 叶片出气边的半径补偿错误

  此外,由于物体表面存在一定不平度,同时红宝石球的直径要远大于表面不平度,导致测针无法测得物体表面的微小凹陷(图2)。

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  图2 红宝石球测针无法测得物体表面的微小凹陷

  接触式测量的第三个问题在于被测物体的表面特性。如果被测物体表面比较柔软,或精细易损,则不适合使用接触式测头。当测针接触物体表面后,轻则使之发生形变,产生较大误差;重则损坏物体表面。

  出于以上原因,光学测量与之相比就有着本质上的优势。光学测量作为一种非接触式测量方法,不使用接触式测针进行采点,而是利用了光的某方面特性来进行测量。这样就完全规避了红宝石球的补偿带来的潜在问题,也使被测物体表面不再受到测针接触带来的影响。至于测量速度则取决于光学测头的种类。但无论哪种测头,其采点方式都是连续的。而且在采点过程中,光学测头区别于接触式测头,接触式测头会因为接触物体表面时速度过快而被认为发生了碰撞,由于光学测头完全不会遇到这个问题,因此进一步提高了采点速度。

 

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