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普林斯顿宣布推出新一代VersaSCAN微区电化学扫描系统

导读: 2012年1月31日,普林斯顿应用研究宣布推出新一代微区电化学测试系统–VersaSCAN微区电化学扫描系统。

  2012年1月31日,普林斯顿应用研究宣布推出新一代微区电化学测试系统–VersaSCAN微区电化学扫描系统。

  VersaSCAN提供了更高的平面和空间分辨率,无论是对于电化学还是材料为基础的测试,都是新一代扫描探针技术的呈现。

  1. 在一个可扩展的平台上,提供多达6种的微区电化学测试技术:

  Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜

  Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试

  Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET, SVP) 扫描振动电极测试

  Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试

  Scanning Droplet System (SDS) 扫描电解液微滴测试

  Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式微区形貌测试

  2. 高精度的样品定位平台,分辨率达50nm;样品测试区域可达100mm.

  3. 建立在普林斯顿50年电化学工作站研发和生产经验上的集成产品,提供更卓越的电流及电位测试信噪比以及阻抗测试能力。

  4. 多功能软件可以实现多个微区测试的功能,操作简便,数据处理及展现功能强大。

  5. 专业的产品应用与技术服务队伍,提供全方位的售后支持。

VersaSCAN 微区电化学扫描系统

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