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40G/100G测试技术

2012-10-26 14:27
苏子言岁月
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  自从2010年6月IEEE发布了802.3ba 40GE/100GE标准以来,40GE/100GE成为电信业的注视焦点。经过近2年的努力,40GE/100GE系统研发已经基本完成。从2012年3月的OFC展会上,我们可以看到,从芯片、光收发模块供应商到系统设备厂商以及测试厂商,都已经为100G时代做好了准备。中国的3大运营商从2011年底开始,对各设备供应商提供40G/100G传输设备进行了测试或者正在准备进行测试。

  相对40G以下速率的传输设备,新的40GE/100GE和OTU3/OTU4不止是更高的传输带宽,也是新的传输制式,所以测试方式与以前相比有所不同。主要体现在:以前的传输方式是串行传输,测试在单个波长上进行,测量单个通道;而新的客户侧40GE/100GE和OTU3/OTU4传输采用WDM复用技术,需要测试多个波长和多个通道。而在线路侧,由于无法完成统一的标准,各厂家采用了不同的线路侧传输调制方式,各种不同的调制方式具备不同的传输适应性,测试起来更加困难,因而本文不打算在这方面进行讨论。下面我们就40GE/100GE和OTU3/OTU4的新测试要求及测试方法做一介绍。

  通道Skew的测试

  由于需要多个通道同时传输一个数据包,在传输过程中,该数据包会被分成多个小包,每个小包对应一个发送通道,发送通道在发送的时候会在定期放置一个“对齐标识”;接收侧在接收数据的时候会根据“对齐标识”重新恢复发送数据包。由于传输路径上的延时不一致,通道上传输数据的到达时刻可能有差别,这个差别就是我们所说的“Skew”。通道上的Skew要在一定范围内,接收端才能正确恢复出原始数据。Skew有静态的Skew,即固定的延时差和动态的Skew,及Skew variation,即随时改变的Skew。

  IEEE802.3 Table 80-4和Table 80-5规定了两种Skew在各以太网子层的最高限值。

  1.最大Skew容限测试

  测试时直接将测试仪与被测设备连接,设备上设置环回,将测试信号在PCS层后环回到测试仪表,仪表应处于无误码状态。

  利用ONT测试仪的发送LANE Skew设置功能在任意某个或某几个LANE上设置最大相对延时180ns或者1856bits(40Gbps)、928bits(100Gbps)的延时,同时保留至少一个LANE的延迟为“0”。这时仪表上应该能够达到无误码状态。

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