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美国TA仪器推出全新同步差示扫描量热仪

2017-03-11 00:30
木中君
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2017年3月6日,TA仪器隆重推出全新的同步差示扫描量热仪/热重分析仪-Discovery SDT 650。

Discovery SDT 650拥有前所未有的灵敏度、基线稳定性、温度及气氛控制性能。SDT 650是第一台融合所有TA最先进技术的同步热分析仪,包括调制DSC,调制TGA,及高分辨TGA,集先进技术于大成,势必会开拓仪器分析的新领域。SDT 650是唯一能够同时测试热流和热重的系统。另外,SDT 650可以同时做双样品的TGA测试,TA专有的这项技术,将会有力的提高实验室工作效率。

同步热分析仪SDT 650能同时得到样品随着时间和温度变化的热流及重量变化信息。温度范围从室温至1500°C、各种材料均可在SDT 650进行实验,出色地满足生产监控以及科研开发等需求。

TA仪器总裁Terry Kelly此次评论说:“我们从未有过在一台仪器上赋予如此多的功能,包括最精准的热流、重量测试,最先进的技术以及强大的自动化操作系统。TA自2016年推出新的Discovery系列以来受到广泛的赞誉,客户表示“获得优异的数据,从无如此简单过!”,“SDT 650势必会成为热分析实验室最强大的分析表征仪器”。

美国TA仪器推出全新同步差示扫描量热仪

SDT 650标配了TA的卧式双杆热天平技术与创新的快速连接杆设计,确保了使用和时间上的灵活性。与所有TA热分析仪器一样,SDT 650测试炉提供5年质保。

仪器配置30位的线性自动进样器。该设计坚固可靠并大大提高了实验测试效率,允许用户进行灵活的实验编程、自动无人化操作、仪器自动校准和验证。 此外,SDT 650同时具备Discovery系列独有的功能,包括“一键触碰”式APP设计和强大的控制分析软件TRIOS 。

声明: 本文由入驻维科号的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。

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